STC817测控卡主要性能特点：

 ●  2路高精准24位A/D转换通道，采样周期50Hz，最高分辨率达±1/20000，全程不分档，全程分辨率不变；
 ●  传感器供桥电源与A/D芯片的基准电压共用同一电压，整个测量系统同比衰减，实现了供桥电源的硬件补偿技术；通过24位A/D转换满足系统的灵敏度和分辨率要求，避免了软件倍频方法降低系统的特性；
 ●  1路数字光栅信号采集，采用高速光耦，截止频率高达100MHz，自动倍频判向，用于采集横梁位移。
 ●  4路数字量输入，4路数字量输出；
 ●  1路PWM输出，输出精度高度1:10万；
 ●  系统板采用4层PCB独特抗干扰布线方法，抗干扰能力强；
 ●  全系统采用全数字化设计, 安全、稳定、可靠、精度高; 
 ●  全系统无任何可调器件，数字调零和测控参数自动标定；
 ●  系统集成32位ARM芯片，具备高速运算能力，实时处理数字信号；  
 ●  本系统采用PCIE3.0总线标准；易扩展、易升级而且做到”即插即用”；
 ●  严格遵循JJF 1103-2003万能试验机计算机数据采集系统的评定进行设计。